1. 半导体芯片制造中,常通过离子注入进行掺杂来改变材料的导电性能。如图是离子注入的工作原理示意图,离子经电场加速后沿水平方向进入速度选择器,通过速度选择器的离子经过磁分析器和偏转系统,注入水平面内的晶圆(硅片)。速度选择器中的电场强度的大小为E、方向竖直向上。速度选择器、磁分析器中的磁感应强度方向均垂直纸面向外,大小分别为B1、B2。偏转系统根据需要加合适的电场或者磁场。磁分析器截面的内外半径分别为R1和R2 , 入口端面竖直,出口端面水平,两端中心位置M和N处各有一个小孔;偏转系统下边缘与晶圆所在水平面平行,当偏转系统不加电场及磁场时,离子恰好竖直注入到晶圆上的O点(即图中坐标原点)。整个系统置于真空中,不计离子重力及其进入加速电场的初速度。下列说法正确的是(  )

A. 可以利用此系统给晶圆同时注入带正电离子和带负电的离子 B. 从磁分析器下端孔N离开的离子,其比荷为 C. 如果偏转系统只加沿x轴正方向的磁场,则离子会注入到x轴正方向的晶圆上 D. 只增大加速电场的电压,可使同种离子注入到晶圆更深处
【考点】
带电粒子在电场与磁场混合场中的运动;
【答案】

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